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產品名稱：二手SEM日立TM3030plus
產品型號：
更新時間：2021-01-15
產品特點：二手SEM日立TM3030plus日立臺式電鏡TM3030Plus，是日立臺式電鏡TM系列的成員，它繼承了日立臺式電鏡的品質。TM3030Plus在TM3030基礎上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環境下具有很好的成像質量，而且無需樣品前處理.
產品詳細資料：
日立臺式電鏡TM3030Plus
二手SEM日立TM3030plus產品介紹：
TM3030Plus是日立臺式電鏡TM系列的成員，它繼承了日立臺式電鏡品質。TM3030Plus在TM3030基礎上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環境下具有很好的成像質量，而且無需樣品前處理，放大倍數可達6萬倍，數字放大可達24萬倍。
主要參數：
1.放大倍率：×15～60,000
2.設定觀察條件：5KV/15KV/EDX
3.觀察模式：導體模式、標準模式、減電荷模式
4.檢測器：高靈敏度半導體四分割BSE探測器、低真空二次電子探測器
5.電子槍：預對中燈絲
二手SEM日立TM3030plus應用領域：
生命科學
材料科學
化學
電子制造
食品工業
方案優勢
低加速電壓成像在掃描電鏡成像中有著重要的作用。采用低加速電壓成像，低能電子束受到散射的擴散區域小，相互作用區接近表面，有利于表面精細形貌成像。對于某些熱敏或導電性能差的樣品，如半導體和器件、合成纖維、濺射或氧化薄膜、紙張、動植物組織、高分子材料等，有時不允許進行導電處理，而要求直接觀察，采用低加速電壓成像可以減小或消除此類樣品的荷電效應同時減小電子束輻照損傷。下圖為氧化鋅樣品在5KV 和15KV 下的圖像對比，由圖像可知，在5KV 低加速電壓下，樣品表面細節特征清晰，有利于表面精細形貌的觀察。
帶有SwiftED3000的TM3000/TM3030的典型配置
*內置EDX探測器
特點
硼以上輕元素檢測。
可進行線掃描，面分布圖以及多點分析。
無需液氮。可在幾分鐘內快速，輕松分析。
可在同一顯示器上顯示圖像和元素數據。
規格
項目 | 說明 |
| 探測器類型 | 硅飄移探測器（SDD） |
| 能量分辨率 | 154電子伏特（Cu-Kα） （相當于135電子伏特的Mn-Kα） |
| 探測元素范圍 | B5 - Am95 |
| 定性分析 | 自動識別和手動峰值識別 |
| 定量分析 | 無標樣定量分析 |
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